通常我們指的是氧化鋯探頭的老化,主要是在增加內阻和背景電位這兩項上:
(1)增加內阻 在實際應用中,探頭老化引起的內阻增大。內阻是指信號線兩端之間的輸入電阻。它是引線電阻、電極與氧化鋯之間的界面電阻和氧化鋯的體積電阻的總和。因此,電極揮發(fā)、電極脫落以及氧化鋯電解質(從穩(wěn)定氧化鋯到不穩(wěn)定氧化鋯)的不穩(wěn)定性將導致內阻增加。氧化鋯探頭的老化可以通過測量探測器的內部電阻來判斷。根據經驗,當內阻增加到其使用極*,就會出現大信號跳躍現象,有的反應為慢響應現象。對于這些氧化鋯探頭,背景電位未必大。 (2)背景電位增加 背景電勢是電池的附加電勢。引起背景電位升高的因素有兩個:一是*因素,寄生在電池上,如SO2、SO3腐蝕、電池不對稱等;二是暫時因素,如電極灰分、空氣對流差等。再改進,可以降低背景電位。 背景電位的增加往往反映了氧化鋯探頭的老化程度。當E0值超過分析儀的大調節(jié)值時,鋯探頭已被損壞。 例如: 氧化鋯,E0為-5MV,制造時,其允許范圍為0~30MV。使用六個月后,它變成-13mV;使用18個月后,它變成:-29mV;這表明探測器老化,需要更換。應該注意的是,一些探測器的老化表現在背景電位增加,而有些氧化鋯探頭雖然老化,但沒有這種現象,所以我們需要認真分析。當背景電勢由于臨時因素而增加時,隨著時間的流逝,可能出現背景電勢先增加后減小。 隨著背景電勢的增加,探針老化的數量小于內阻的數量增加。簡單的背景增大,一般不會有大的信號脈動現象。 |